仮想プロビジョニングのしきい値およびリソース消費テスト (ロゴ)
このテストでは、シン プロビジョニング機能のあるターゲット デバイスで Windows 要件が満たされることを検証します。
テストの詳細
| 仕様 |
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| プラットフォーム |
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| サポートされているリリース |
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| 予想される実行時間 (分) | 300 |
| カテゴリ | 互換性 |
| タイムアウト (分) | 18000 |
| 再起動が必要です | false |
| 特別な構成が必要です | false |
| Type | automatic |
その他のドキュメント
この機能領域のテストには、前提条件、セットアップ、トラブルシューティング情報など、次のトピックに記載されている追加のドキュメントが含まれている場合があります。
テストの実行
テストを実行する前に、「ハード ディスク ドライブのテストの前提条件」で説明されているテスト要件に従って、テストのセットアップを完了します。
テストを実行する前に、シン プロビジョニングされた LUN が、オンラインで初期化される RAW ディスクであることを確認してください。 また、シン プロビジョニングされた LUN のしきい値を 70% (既定値) に設定してください。 しきい値が固定されている場合、テストの実行時、そのしきい値を指定してください。
トラブルシューティング
HLK テスト エラーの一般的なトラブルシューティングについては、「Windows HLK テストのエラーのトラブルシューティング」を参照してください。
トラブルシューティング情報については、「Device.Storage テストのトラブルシューティング」を参照してください。
詳細
エンドツーエンド シナリオのテストでは、しきい値とリソースの枯渇テストが実行されます。 中心となる手法は、しきい値通知/永続的リソース枯渇を適切にトリガーし、センス キーを確認することです。 しきい値に達すると、値が少なくとも、しきい値に設定されている値より小さいかどうかを判断するログ ページが表示されます。 一時的なリソース枯渇の場合、このシナリオはオプションにします。ストレージ デバイスによってはこのシナリオが正しく処理され、センス キーが返されないことがあるためです。
コマンド構文
| コマンド オプション | 説明 |
|---|---|
Thinprovision.exe /scenario exhaustion /thindisk "[TPDiskDeviceObjLink]" /percent "[TPDiskThresholdPercent]" /logo |
テストを実行します。 |
Note
このテスト バイナリのコマンド ライン ヘルプを表示するには、「/h」と入力します。
ファイル一覧
| ファイル | インストール先 |
|---|---|
Thinprovision.exe |
<[testbinroot]>\nttest\driverstest\storage\wdk\thinprovision\ |
パラメーター
| パラメーター名 | パラメーターの説明 |
|---|---|
| WDKDeviceID | |
| TPDiskDeviceObjLink | シン プロビジョニングされた LUN |
| LLU_NetAccessOnly | |
| LLU_LclAdminUsr | |
| Destructive | (0、1) 0 = パッシブ、1 = 破壊的 |
| TPDiskThresholdPercent | シン プロビジョニングされた LUN の割合 |