CPUStress 테스트(디바이스 기본 사항)

아티클
03/08/2023

CpuStress 테스트는 다양한 프로세서 사용률 수준으로 디바이스 I/O 테스트를 수행합니다.

CpuStress

테스트	설명
프로세서 사용률 수준을 번갈아 사용하는 디바이스 I/O	이 테스트는 높은(HPU)와 낮은(LPU) 프로세서 사용률 수준을 번갈아 가며 디바이스 I/O 테스트를 수행합니다. 이진 테스트: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 테스트 방법: Device_IO_With_Varying_ProcUtil 매개 변수: - 디바이스 기본 사항 테스트 매개 변수 참조 DQ PingPongPeriod HPU Lpu TestCycles
고정 프로세서 사용률이 있는 디바이스 I/O	이 테스트는 PU(프로세서 사용률) 수준이 고정 백분율로 설정된 디바이스 I/O 테스트를 수행합니다. 이진 테스트: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 테스트 방법: Device_IO_With_Fixed_ProcUtil 매개 변수: - 디바이스 기본 사항 테스트 매개 변수 참조 DQ IOPeriod Pu
고정 프로세서 사용률이 있는 디바이스 PNP	이 테스트는 PU(프로세서 사용률) 수준이 고정 백분율로 설정된 디바이스 PNP 테스트를 수행합니다. 이진 테스트: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 테스트 방법: Device_PNP_With_Fixed_ProcUtil 매개 변수: - 디바이스 기본 사항 테스트 매개 변수 참조 DQ TestCycles Pu
고정 프로세서 사용률을 사용하는 절전 모드	이 테스트는 프로세서 사용률이 고정 백분율로 설정된 다양한 절전 모드 상태를 통해 시스템을 순환합니다. 이진 테스트: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 테스트 방법: Sleep_With_Fixed_ProcUtil 매개 변수: - 디바이스 기본 사항 테스트 매개 변수 참조 TestCycles Pu