Test Modları

TAEF, test yürütme davranışını çeşitli şekillerde değiştiren çeşitli test modları sağlar. Bu bölüme geçmeden önce TAEF'nin temel yürütmesi hakkında bilgi sahibi olduğunuzdan emin olun. Bu bölüme geçmeden önce Bkz. Testleri Yazma ve Testleri Yürütme.

Not: Test modları birbiriyle uyumlu değildir; Belirli bir test çalıştırması sırasında yalnızca bir test modu etkinleştirilebilir.

Aşağıdaki test modları şu anda TAEF tarafından sağlanmıştır:

• Döngü
• Stres

Döngü Testi Modu

"Döngü Testi Modu", tek tek testleri veya tüm test işlemlerini yinelemek için basit fonksiyonellik sağlar. Döngü Test Modu, test otomasyonunun sağlamlığını doğrulamak veya kolay stres veya uzun mesafeli otomasyon elde etmek için mükemmeldir.

Döngü Testi Modu, /testmode:loop komut seçeneği belirtilerek etkinleştirilir. Belirli bir davranışı denetleyan iki parametre daha vardır : isteğe bağlı:

/Loop:<loopNum>
Kaç kez çalıştırılacağını (varsayılan:1) denetler.

/LoopTest:<loopTestNum>
Her bir testin çalıştırma işlemi sırasında kaç kez yürütüleceğini kontrol eder (varsayılan: 10).

Aşağıdaki diyagramda, TAEF'nin iki Test Yöntemi içeren tek bir Test Sınıfı içeren tek bir Test Dosyasından oluşan bir test çalıştırmasını nasıl temsil ettiği gösterilmektedir:

Diyagramdaki oklar TAEF altında yürütme akışını gösterir; TAEF'in kurulum fikstürlerini nasıl yürüttüğü, ardından testlerin kendilerinin ve uygun temizleme fikstürlerinin testler tamamlandıktan sonra nasıl yürütülür olduğunu gösterir. 'looptest' değeri, TAEF'nin test yöntemlerinin çevresinde yinelemesine neden olur - mümkün olan en küçük kapsam. Test için kurulum ve temizleme işleminin yürütülmediğini fark edin. Veri temelli testlerde de aynı davranış oluşur: 'looptest' değeri döngüleri 'Test Yöntemi' düzeyinde denetler.

Bazen yalnızca Test Yöntemi'nin etrafında döngü yapmak mümkün değildir ve bu noktada 'döngü' parametresi kullanılabilir. Aşağıdaki diyagramda TAEF'nin iki test dosyasından oluşan bir test çalıştırmasını nasıl temsil ettiği gösterilmektedir. Her dosya tek bir test sınıfı ve her test sınıfı tek bir test yöntemi içerir:

'loop' parametresi mümkün olan en büyük kapsamda döngü denetimi gerçekleştirir; tüm çalıştırmayı. Te.exeiçin tek bir test dosyası belirtirseniz veya birden çok test dosyanız varsa, çalıştırmanın tamamı belirtilen sayıda döngüye alınacaktır.

Stres Testi Modu

TAEF için 'Stres' Test Modu, kullanıcıların testleri 'stres' ortamında çalıştırmasına yardımcı olur. "/testmode:stress" komut seçeneği aracılığıyla Stres Testi Modu etkinleştirildiğinde aşağıdaki davranış etkinleştirilir:

1. Te.exe süresiz olarak çalışır - Te.exe'in durdurulması için komut istemine Ctrl+C gönderilmeli veya gizli penceresine bir WM_CLOSE iletisi gönderilmelidir.

2. Te.exe, çalıştığı testlerin ilk 'grubunda' yinelenir - Bir çalıştırma sırasında sonraki dosyaların yüklenmesini önlemek için, Te.exe çalıştığı testlerin ilk 'grubunda' yinelenir. Şunlara dikkat edin:

   1. Komut isteminde herhangi bir seçim yapmadan birden çok Test Dosyası belirtirseniz, yalnızca ilk Test Dosyası yürütülür.
   2. Komut isteminde bir seçim sorgusuyla birlikte birden çok Test Dosyası belirtilirse, yalnızca seçim ölçütlerinin karşılandığı ilk Test Dosyasındaki testler yürütülür.
   3. Modül düzeyinde veri temelli bir Test Dosyası belirtilirse, yürütülen veri temelli parametrelerin ilk bileşimi döngüye alınır.

3. Bir 'stres kaydedici' etkinleştirildi - Günlüğe kaydetmenin tüketeceği kaynak miktarını en aza indirgemek amacıyla Te.exe, en düşük çıkış günlükçüsüne geçer.

   • Konsola sadece hatalar yazılır, başka hiçbir log girdisi yazılmaz.
   • Günlükçü her 60 saniyede bir geçme/kalma sayılarının güncel durumunu konsola gönderir.
   • Her saniye, kayıt cihazı Te.exe'ın hala çalıştığını göstermek için tek bir '.' çıkışı verir.

Stres testi modunda çalışırken, "/inproc" anahtarını da belirtmeniz gerekir; bu, tüm stres yürütmenin Te.exe işleminde çalıştırıldığı anlamına gelir. Bu kısıtlama TAEF'nin yürütme için ayrı korumalı alan işlemini başlatması ve sürdürmesi gereksinimini ortadan kaldırarak başarısız bellek ayırmalarından kaynaklanan test hatalarını en aza indirir.