Aracılığıyla paylaş

Derinlik kamerası teknik incelemesi - ISSCC 2018

  • Makale

Başlık: 1Mpixel 65nm BSI 320MHz 3,5μm Küresel Deklanşör Pikselleri ve Analog Bölmeli Demodulated TOF Görüntü Sensörü

Katkıda bulunan: Cyrus S Bamji, Swati Mehta, Barry Thompson, Tamer Elkhatib, Stefan Wurster, Onur Akkaya, Andrew Payne, John Godbaz, Mike Fenton, Vijay Rajasekaran, Larry Prather, Satya Nagaraja, Vishali Mogallapu, Dane Snow, Rich McCauley, Mustansir Mukadam, İskender Agi, Shaun McCarthy, Zhanping Xu, Travis Perry, William Qian, Vei-Han Chan, Prabhu Adepu, Gazi Ali, Muneeb Ahmed, Aditya Mukherjee, Sheethal Nayak, Dave Gampell, Sunil Acharya, Lou Kordus, Pat O'Connor

ISSCC 2018'de sunulan ve ISSCC Deg'de yayımlanmıştır. Teknoloji. Gazeteler, Şubat 2018.

C. Bamji et al., "1Mpixel 65nm BSI 320MHz Demodulated TOF Image Sensor with 3.5μm Global Shutter Pixels and Analog Binning," ISSCC Deg. Teknoloji. Kağıtlar, s. 94-95, Şubat 2018. IEEE Araştır Bağlantısı: https://ieeexplore.ieee.org/document/8310200/

© 2018 IEEE. Bu malzemenin kişisel kullanımına izin verilir. IEEE'den izin, bu malzemenin reklam veya tanıtım amaçlı olarak yeniden basılması/yeniden yayımlanması, yeni kolektif çalışmalar oluşturulması, sunuculara veya listelere yeniden satışa sunulmak veya yeniden dağıtılması ya da bu işin telif hakkı olan herhangi bir bileşeninin diğer çalışmalarda yeniden kullanılması dahil olmak üzere mevcut veya gelecekteki tüm medya kullanımları için alınmalıdır.

Whitepaper:
Teknik inceleme önizlemesi
Derinlik kamerası teknik incelemesini indirin