sample_d (sm4 - asm)

使用指定的位址和指定取樣器所識別的篩選模式，從指定的元素/紋理取樣資料。

sample_d[_aoffimmi (u，v，w) ] dest[.mask]， srcAddress[.swizzle]， srcResource[.swizzle]， srcSampler， srcXDerivatives[.swizzle]， srcYDerivatives[.swizzle]

項目	描述
dest	[in]作業結果的位址。
srcAddress	[in]一組紋理座標。如需詳細資訊，請參閱範例指示。
srcResource	[in]紋理暫存器。如需詳細資訊，請參閱範例指示。
srcSampler	[in]取樣器暫存器。如需詳細資訊，請參閱範例指示。
srcXDerivatives	[in]X 方向來源位址的衍生專案。如需詳細資訊，請參閱一節。
srcYDerivatives	[in]Y 方向來源位址的衍生專案。如需詳細資訊，請參閱一節。

備註

這個指令的行為就像範例指令，不同之處在于 x 方向的來源位址衍生專案和 y 方向分別由額外的參數 srcXDerivatives 和 srcYDerivatives提供。這些衍生專案位於標準化紋理座標空間中。

srcXDerivatives (POS-swizzle) r、g 和 b 元件提供 du/dx、dv/dx 和 dw/dx。忽略 POS-swizzle) ('a' 元件。

srcYDerivatives (POS-swizzle) r、g 和 b 元件提供 du/dy、dv/dy 和 dw/dy。忽略 POS-swizzle) ('a' 元件。

不同于允許在 2x2 戳記之間共用單一 LOD 計算 的範例 指令， sample_d 必須在圖元著色器中使用時，完全獨立計算每個圖元的 LOD。

如果 sample_d 的衍生輸入來自圖元著色器中的衍生計算指令，且值包括 INF/NaN， sample_d 的行為可能不符合隱含計算衍生的範例指令。 INF/NaN 值可能會以不同的方式影響 LOD 計算。

從沒有任何系結至的輸入位置擷取會針對所有元件傳回 0。

sample_d 會繼承與範例指令相同的限制，以及其其他參數的限制。
srcXDerivatives 和 srcYDerivatives 必須是 temp (r#/x#) 、constantBuffer (cb#) 、input (v#) registers 或 immediate value (s) 。

本指示適用于下列著色器階段：

頂點著色器	幾何著色器	像素著色器
X	X	x

下列著色器模型支援此函式。