藉由使用 Windows HLK 對裝置基礎可靠性測試進行疑難排解

本文說明如何針對 Windows 硬體實驗室套件 (Windows HLK) 裝置基礎可靠性測試期間可能發生的問題進行疑難排解。 請參閱 針對 Windows HLK 測試失敗進行疑難排解。

針對裝置基本概念可靠性測試進行疑難排解包含下列主要步驟：

1. 檢查裝置設定

2. 識別測試失敗的類型

3. 分級測試失敗

下列各節提供其他詳細和重要資訊，可讓您用來針對失敗的裝置基本概念可靠性測試進行疑難排解：

• 收集及檢視 Windows 裝置測試架構 (WDTF) 追蹤

• 檢閱常見裝置基礎可靠性測試失敗

• 檢閱記錄檔

• 藉由從命令列執行測試來重現測試失敗

• 針對裝置基本概念測試所記錄的 WLAN SimpleIO 外掛程式失敗進行疑難排解

• 使用核心偵錯對裝置基礎可靠性測試失敗進行偵錯

• 如何取得協助

• 其他資源

檢查裝置設定

裝置基本概念可靠性測試需要正確設定測試裝置以測試 I/O。 開始測試之前，請確定測試組態符合 Device.Fundamentals 可靠性測試必要條件中所述的測試必要條件。 不符合這些必要條件可能會造成測試失敗。

識別測試失敗的類型

請參閱 針對 Windows HLK 測試失敗進行疑難排解中的疑難排解 Windows HLK 測試失敗 ，以識別特定類型的測試失敗。

測試記錄失敗

在 Windows HLK 中，裝置基本概念可靠性測試失敗最常見的方式是測試記錄失敗。 如果您的測試記錄失敗，建議您繼續進行本主題的 分級測試失敗 一節。

測試系統錯誤檢查

裝置基本概念可靠性測試期間通常會看到系統錯誤檢查，因為測試本質 (壓力、可靠性、並行等 ) 。

當您調查系統錯誤檢查所造成的失敗時，強烈建議您將測試系統連線到核心偵錯工具，以重新執行測試。 使用偵錯工具執行測試會導致系統在系統錯誤檢查時中斷偵錯工具。

• 如需如何設定核心偵錯工具的詳細資訊，請參閱 手動設定Kernel-Mode 偵錯。

• 如需詳細資訊，請參閱 使用核心偵錯來偵錯裝置基本概念可靠性測試失敗 。

• 如需如何在 Windows HLK 測試回合期間針對系統錯誤檢查進行疑難排解的一般指引，請參閱針對 Windows HLK 測試失敗進行疑難排解中的 Windows HLK 測試失敗 。

測試停止回應

測試停止回應經常發生在裝置基本概念可靠性測試期間。 測試停止回應通常會在 I/O 要求封包 (IRP) (一般出現，I/O 和 PNP IRP) 卡在驅動程式中，並防止測試進行。

注意

Windows HLK 最終會取消並失敗無回應測試，讓下一個排程的測試可以繼續進行。

如果測試停止回應，強烈建議您將測試系統連線到核心偵錯工具，以重新執行測試。 這可讓您在測試停止回應時中斷偵錯工具，以及檢查測試程式的堆疊追蹤， (裝置基本概念可靠性測試通常會以 te.processhost.exe 或 te.exe) 的形式執行。

• 如需如何設定核心偵錯工具的詳細資訊，請參閱 手動設定Kernel-Mode 偵錯。

• 如需詳細資訊，請參閱 使用核心偵錯來偵錯裝置基本概念可靠性測試失敗 。

• 如需如何在 Windows HLK 測試回合期間對測試停止回應進行疑難排解的一般指引，請參閱針對 Windows HLK 測試失敗進行疑難排解中的 Windows HLK 測試失敗 。

分級測試失敗

檢閱測試檔案

裝置基本概念可靠性測試通常會測試常見的使用者案例，例如使用 I/O 睡眠、I/O 的 PNP、I/O 重新開機等。建議您檢閱 Device.DevFund 測試的適當測試檔案，以完整瞭解測試 () 的測試案例。

徹底檢閱測試記錄

您應該徹底檢閱實際錯誤訊息前面的記錄專案，以清楚瞭解目前的測試案例和先前執行的測試案例。 即使先前的測試案例通過) 會影響下一個測試案例，仍會執行 (。 例如，在裝置停用並啟用之後，可能會發生 I/O 失敗。 如需檢閱測試記錄的詳細資訊，請參閱 檢閱記錄檔

檢閱複製回的其他記錄檔

裝置基本概念可靠性測試通常會複製用於分級測試失敗的其他檔案。 例如，重新安裝和 PNP 測試會從測試系統複製 SetupAPI 記錄。 您應該在 Windows HLK Studio 的 [結果] 索引標籤上開啟並檢閱 [其他檔案] 底下的所有檔案。 以滑鼠右鍵按一下測試結果，然後選取 [其他檔案]。

收集及檢視 WDTF 追蹤

當您針對特定測試失敗進行疑難排解時，收集和檢視 WDTF 追蹤可能會很有用。 如需如何收集及檢視 WDTF 追蹤的詳細資訊，請參閱收集及檢視 Windows 裝置測試架構 (WDTF) 追蹤 。

如何取得說明

Microsoft 的裝置基本概念可靠性測試擁有者會定期檢閱並回應 Windows 硬體測試和認證論壇中有關裝置基本概念測試失敗的問題。 我們建議您使用此論壇來取得所需的支援。

如需如何開啟調查測試失敗的支援案例的相關資訊，請參閱 Windows HLK 支援 。

其他資源

下表列出其他資源，可協助您解決裝置基本概念測試期間可能會遇到的問題。

資源	描述
針對 Windows HLK 環境進行疑難排解	Windows HLK 基礎結構失敗的一般分級和疑難排解協助。
針對 Windows HLK 測試失敗進行疑難排解	一般分級和疑難排解指引，以調查測試失敗。
分級 WDTF 型測試	針對 WDTF 型測試所記錄失敗進行疑難排解的一般指引。
如何選取及設定裝置基本概念測試	裝置基本概念可靠性測試也會隨附于 Windows 驅動程式套件中， (WDK) 。 驅動程式開發人員可能會偏好使用 WDK 和 Microsoft Visual Studio 來執行失敗的測試，以調查測試失敗。 此頁面描述如何使用 WDK 來執行測試。
%ProgramFiles%\Windows Kits\8.1\Testing\Tests\Additional Testing\DeviceFundamentals。) 。	裝置基本概念可靠性測試的子集是使用 VBScript 撰寫的。 您可以使用 [記事本] 來開啟這些腳本檔案。 在您安裝 WDK 之後，腳本會位於指定的資料夾中。
使用 WDK 對裝置基本概念測試進行疑難排解	提供修正使用 WDK 執行裝置基本概念測試時可能遇到的問題的建議。

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